YAD
良率感知的大数据诊断分析平台
YAD简介
YAD是一款综合性的DFT诊断分析工具，能够独立解析各类主流诊断报告，也可以与YMS集成，串联芯片设计、制造和测试环节的数据，从而深入挖掘良率失效的根本原因。借助人性化的全景交互和先进AI算法，YAD能够帮助快速定位芯片从设计到制造端的根因缺陷、加速诊断分析、提升产品良率。
平台优势
- 打通集成电路设计、制造与分析环节的数据壁垒，支持多维数据输入的解析和数仓系统的搭建。
- 实现数据可视化与便捷交互，运用统计分析、数据相关性分析等方法，提升数据分析深度。
- 深度融入AI技术，通过多种算法显著提高根因分析效率和准确率。
产品特点
全流程数据贯通
借助标准化数据技术，完美适配主流诊断数据。通过有效结合设计信息与YMS深度集成，实现芯片全流程数据贯通，深入挖掘良率失效的根因。
全景化图表互动
通过树形目录形式层级展示用户根因分析流程，通过DataCard、Dielnfo、WaferMap、Stack Die、Report、Logic View、Lavout View等视图，且灵活支持数据关联分析，帮助用户快速高效进行诊断分析。
智能化失效根因分析
YAD融合先进AI算法模型，以多种算法对大量诊断数据做自动化的RCA根因分析、并结合晶圆空间模式分析、版图图形模式分析、在线缺陷图像特征映射等功能快速准确定位失效根因。
