简介
Fail BitMap Analysis System（存储芯片失效模式分析智能系统）是半导体存储芯片制造和测试中不可或缺的“医生”和“侦探”，在纳米尺度的芯片世界里，一个失效位点就是隐藏的利润黑洞。面对日益复杂的存储芯片架构与工艺，传统的分析方法如同大海捞针，使产品良率爬升步履维艰。
DE-FBM是一款新一代的存储芯片失效模式分析智能系统，它可以洞见每一比特的失效真相，驱动良率巅峰，它不仅是工具，更是团队中专业的芯片诊断专家和良率工程顾问，它致力于将海量的失效数据，转化为清晰、可行动的深度洞察，助力工程师精准锁定根因，决胜于纳米之间。
